國立臺灣美術館「保存科學專題講座-大面積掃描微區掃描式能量散射 X射線螢光光譜分析儀」

〈活動緣起〉

本館為提升藝術保存修復知識與典藏業務動能,於今年引進「大面積掃描微區掃描式能量散射X射線螢光光譜分析儀」,突破過去手持式XRF儀器單點檢測的限制,將顏料中重元素的多點訊號組成大面積平面影像,提供藝術史、修復師和文物保存人員具體的資訊,透過解析各元素分佈圖揭露畫作底層草稿、圖像或修補之痕跡,進一步了解藝術家創作的過程、使用材料,並且可作為保存維護措施之依據。本館為推廣、促進美術館作品典藏業務與保存維護相關工作,特舉辦此次科學檢測分析講座,探究大面積掃描微區掃描式能量散射X射線螢光光譜分析儀原理和技術,如何提供更多藝術品隱藏的資訊。

活動時間:107年11月6日(星期二 ),下午14:00-16:50 活動地點:國立臺灣美術館 研習教室
參加對象:本館同仁及文化相關領域之從業人員
報名方式:網路報名至11月2日,約30人額滿為止(網址:https://www.ntmofa.gov.tw/
聯絡方式:04-23723552 分機371 楊小姐
備註:全程參與者,核發公務人員學習時數3小時

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